[实用新型]解除集成电路可控硅效应的装置无效
| 申请号： | 201020174885.4 | 申请日： | 2010-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN201846052U | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 肖明超 | 申请（专利权）人： | 深圳市慧锐通电器制造有限公司 |
| 主分类号： | H02H3/00 | 分类号： | H02H3/00 |
| 代理公司： | 北京乾诚五洲知识产权代理有限责任公司 11042 | 代理人： | 付晓青;杨玉荣 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区观澜街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种解除集成电路可控硅效应的装置，由一供电电源连接集成电路供电，其特征在于，还包括一开关管和控制芯片，开关管串联设置在供电电源与集成电路之间，由控制芯片连接集成电路采集电平信号控制开关管的通断；本实用新型的有益效果是，集成电路出现可控硅效应时，能有效且精准的切断集成电路的供电电源对集成电路的保护，同时实现实现简单，成本低；给生产和使用带来方便。 | ||
| 搜索关键词： | 解除 集成电路 可控硅 效应 装置 | ||
【主权项】：
解除集成电路可控硅效应的装置，由一供电电源连接集成电路供电，其特征在于，还包括一开关管和控制芯片，开关管串联设置在供电电源与集成电路之间，由控制芯片连接集成电路采集电平信号控制开关管的通断。
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