[实用新型]老化测试系统有效
| 申请号： | 201020207505.2 | 申请日： | 2010-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN201716331U | 公开（公告）日： | 2011-01-19 |
| 发明（设计）人： | 沈冲;陈剑晟;王斌;羡迪新;陈驰;高建辉 | 申请（专利权）人： | 北京新润泰思特测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100088 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其中，所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连接。本实用新型的老化测试系统解决了现有老化测试系统中测试功能有限，以致半导体器件的筛选结果不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种老化测试系统，包括老化测试箱、测试模块、数据处理模块及系统控制模块，其特征在于：所述测试模块用于测试待老化测试器件的功能和/或直流和/或交流参数；所述数据处理模块用于处理由所述测试模块得到的测试数据；所述系统控制模块用于发出各种控制信号，以控制所述老化测试的完成；所述老化测试箱内具有用于放置所述待老化测试器件的至少一个适配板，通过接口将所述至少一个适配板、所述测试模块、所述数据处理模块和所述系统控制模块相连。
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