[实用新型]多回路测量系统无效

专利信息
申请号: 201020224037.X 申请日: 2010-06-11
公开(公告)号: CN201845055U 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 张林;文志宇;杨宇;许博文;王立成 申请(专利权)人: 名硕电脑(苏州)有限公司;永硕联合国际股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/25
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 宋冠群
地址: 215011 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种多回路测量系统,用于测量待测物件的多条回路。多回路测量系统包括测量控制装置、自动检查盒、测量装置以及切换装置。测量控制装置产生测量信号以选择这些回路的其中之一作为待测回路。自动检查盒分别耦接于待测物件与测量控制装置,自动检查盒接收测量信号并根据测量信号耦接于待测回路。切换装置分别耦接于测量控制装置、自动检查盒以及测量装置。切换装置接收测量信号并根据测量信号电性连接测量装置与自动检查盒,以使测量装置测量待测回路。本实用新型提供的多回路测量系统仅利用一个测量装置即可测量多条回路,从而提高测量装置的工作效率。
搜索关键词: 回路 测量 系统
【主权项】:
一种多回路测量系统,用于测量待测物件的多条回路,其特征是,所述多回路测量系统包括:测量控制装置,所述测量控制装置产生测量信号以选择所述这些回路的其中之一作为待测回路;自动检查盒,其分别耦接于所述待测物件与所述测量控制装置,所述自动检查盒接收所述测量信号并根据所述测量信号耦接于所述待测回路;测量装置;以及切换装置,其分别耦接于所述测量控制装置、所述自动检查盒以及所述测量装置,所述切换装置接收所述测量信号并根据所述测量信号电性连接所述测量装置与所述自动检查盒,以使所述测量装置测量所述待测回路。
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