[实用新型]一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统无效
申请号: | 201020242390.0 | 申请日: | 2010-06-26 |
公开(公告)号: | CN201796119U | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 王林;李应龙;黄美钰;王耀林;李潇;王雪梅;杨保书;王钰中 | 申请(专利权)人: | 天水天光半导体有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人: | 周春雷 |
地址: | 741000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本实用新型提供一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统。该系统包括一个可编程电源、一个示波器、一个被测器件模块、一个信号源、一个控制计算和一个测试主板,可编程电源与被测器件模块相连为被测模块提供测试电源,与控制计算机相连;示波器通过探头检测测试主板的测试信号,并与控制计算机连接传输测试信号;被测器件模块分别和被侧器件和测试主板建立连接,进行数据的交互传输;信号源与测试主板连接为测试主板提供时钟测试信号;测试系统使集成电路的交流测试系统具备通用性,可为不同类型的测试对象提供通用和特定的测试,从而实现降低产品成本,提高测试精度和测试效率的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 可编程 数字集成电路 交流 参数 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统,该系统包括:一个可编程电源与被测器件模块相连为被测模块提供测试电源,与控制计算机相连;一个示波器通过探头检测测试主板的测试信号,并与控制计算机连接传输测试信号;一个被测器件模块分别和被侧器件和测试主板建立连接,进行数据的交互传输;一个信号源与测试主板连接为测试主板提供时钟测试信号;一个控制计算机连接测试主板、可编程电源和示波器,对其进行控制;其特征在于该系统还包括一个测试主板,该主板包括:主板芯片、译码电路、信号源继电器矩阵、测试通道继电器矩阵、信号处理电路、电源拨盘、译码电路,主板芯片与控制计算机进行数据交互,控制译码电路对继电器矩阵和电路进行控制。
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