[实用新型]基于微弯损耗的多层型高精度光纤检测装置无效
| 申请号： | 201020257623.4 | 申请日： | 2010-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN201772993U | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 杜兵;杜蔚;杜迎涛 | 申请（专利权）人： | 西安金和光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于微弯损耗的多层型高精度光纤检测装置，包括至少由三块互相平行的、两两相对的、具有相互错开变形齿的板构成的两层微弯变形器，一根信号光纤的至少有两个部分分别夹持在每层微弯变形器之间，信号光纤的两端接延长光纤。这样相当于两个微弯传感器的叠加，使有效的信号光纤长度大大延长，并减少了信号光纤的弯曲曲率和增加了本实用新型的光纤检测装置的响应距离范围，不仅提高本实用新型的精度和灵敏度，同时延长了信号光纤的使用寿命，同样可以将微弯变形器增加到三层、四层等多层，进一步提高精度和灵敏度，使本实用新型的装置具有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 损耗 多层 高精度 光纤 检测 装置 | ||
【主权项】：
基于微弯损耗的多层型高精度光纤检测装置，其特征在于：包括至少由三块互相平行的、两两相对的、具有相互错开变形齿的板构成的两层微弯变形器，一根信号光纤的至少有两个部分分别夹持在每层微弯变形器之间，信号光纤的两端接延长光纤。
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