[实用新型]132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对132线和其它同类陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按132线陶瓷四边引线扁平封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，插座体和压块还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖带动压块向下，使被试器件压紧接触件。接触件采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式细节距组成。插座座体斜面起定位装置作用，方便被试器件的放入和取出。

主权项

一种132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座(10)、盖(4)和钩(2)组成，各部分间以轴(1)(6)和扭簧(7)相连接，接触件(9)、(11)、(12)由轴向对称平均分布的132线、0.635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座(10)的4面凹槽中。