[实用新型]MTS通用总线集成电路测试系统有效
申请号: | 201020284785.7 | 申请日: | 2010-08-06 |
公开(公告)号: | CN201796117U | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 张书恒 | 申请(专利权)人: | 上海宏测半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 卢刚 |
地址: | 200001 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种MTS通用总线集成电路测试系统,涉及集成电路测试领域。其主要包括上位控制电脑、系统电源、VXI通用总线背板及测试选件模组,测试选件模组包括多个测试选件,其中所述VXI通用总线背板设有通用接口插槽,测试选件模组通过通用接口插槽与VXI通用总线背板连接;所述MTS通用总线集成电路测试系统进一步包括与测试选件模组连接的器件接口板以及与器件接口板连接的DUT接口。 | ||
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【主权项】:
一种MTS通用总线集成电路测试系统,其主要包括上位控制电脑、系统电源、VXI通用总线背板及测试选件模组,测试选件模组包括多个测试选件,其特征在于:所述VXI通用总线背板设有通用接口插槽,测试选件模组通过通用接口插槽与VXI通用总线背板连接;所述MTS通用总线集成电路测试系统进一步包括与测试选件模组连接的器件接口板以及与器件接口板连接的DUT接口。
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