[实用新型]漏电检测保护电路有效
| 申请号： | 201020287432.2 | 申请日： | 2010-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN201774227U | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 黄华道 | 申请（专利权）人： | 黄华道 |
| 主分类号： | H02H3/32 | 分类号： | H02H3/32;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 赵郁军 |
| 地址： | 325603 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种漏电检测保护电路，其特征在于：该漏电检测保护电路还包括一个受电磁锁扣机构控制的寿命终止检测开关和一个锁扣开关。可控硅的阳极经锁扣开关、内置有铁芯的脱扣线圈与电源输入端火线相连；可控硅的阴极与电源输入端零线相连；寿命终止检测开关和限流电阻串联构成用于完成寿命终止检测功能的模拟漏电流产生电路；该模拟漏电流产生电路的一端与穿过感应线圈和自激线圈的电源输入端零线相连，另一端经所述脱扣线圈与电源输入端火线相连。在复位按钮处于脱扣状态时，寿命终止检测开关闭合，锁扣开关断开；当复位按钮复位后，寿命终止检测开关断开，锁扣开关闭合；当复位按钮被按下时，锁扣开关闭合，寿命终止检测开关断开。 | ||
| 搜索关键词： | 漏电 检测 保护 电路 | ||
【主权项】：
一种漏电检测保护电路，它包括用于检测漏电流的感应线圈(L1)、用于检测低电阻故障的自激线圈(L2)、控制芯片(IC1)、内置有铁芯的脱扣线圈(SOL)、可控硅(V2)、与复位按钮联动的主回路开关(K1 1、K1 2)；其特征在于：该漏电检测保护电路还包括一个受电磁锁扣机构控制的寿命终止检测开关(K4)和一个锁扣开关(K2)；所述可控硅(V2)的阳极经所述锁扣开关(K2)、内置有铁芯的脱扣线圈(SOL)与电源输入端的火线相连；所述可控硅(V2)的阴极与电源输入端的零线相连；所述寿命终止检测开关(K4)和限流电阻(R10、R11)串联构成用于完成寿命终止检测功能的模拟漏电流产生电路；该模拟漏电流产生电路的一端与穿过所述感应线圈(L1)和自激线圈(L2)的电源输入端零线相连，另一端经所述脱扣线圈(SOL)与电源输入端火线相连；在复位按钮处于脱扣状态时，所述寿命终止检测开关(K4)闭合，锁扣开关(K2)断开；当复位按钮复位后，所述寿命终止检测开关(K4)断开，锁扣开关(K2)闭合；当复位按钮被按下时，所述锁扣开关(K2)闭合，寿命终止检测开关(K4)由闭合转变为断开。
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