[实用新型]光学测量装置用自动进样清洗系统及光学测量装置无效

专利信息
申请号: 201020296824.5 申请日: 2010-08-16
公开(公告)号: CN201780260U 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 汤永佐;任国兴;王芝萍;刘东彦;曹煊;程岩;马然;张颖;高扬;张颖颖;刘岩;孙继昌;侯广利 申请(专利权)人: 山东省科学院海洋仪器仪表研究所
主分类号: G01N21/15 分类号: G01N21/15
代理公司: 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 代理人: 崔滨生
地址: 266001 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型提供一种光学测量装置用自动进样清洗系统及光学测量装置。光学测量装置用自动进样清洗系统,包括样品池、第一泵、第二泵、第一阀和第二阀;样品池的上端与第一泵的出口连通在一起,下端与第二泵的出口连通在一起;所述第一阀的进口通过三通管与第一泵和样品池之间的管道连通;所述第二阀的进口通过三通管与第二泵和样品池之间的管道连通。通过设置第一泵和第二泵,利用压力原理配合阀门的开合,使样品池的残液能都从上往下自动排出,实现完全清除样品池残液,从而提高测量的准确度。
搜索关键词: 光学 测量 装置 自动 清洗 系统
【主权项】:
一种光学测量装置用自动进样清洗系统,其特征在于,包括样品池、第一泵、第二泵、第一阀和第二阀;所述样品池的上端与所述第一泵的出口连通在一起,下端与所述第二泵的出口连通在一起;所述第一阀的进口通过三通管与所述第一泵和所述样品池之间的管道连通;所述第二阀的进口通过三通管与所述第二泵和所述样品池之间的管道连通。
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