[实用新型]太阳能硅片的自动检测系统有效

专利信息
申请号: 201020518848.0 申请日: 2010-08-31
公开(公告)号: CN201844980U 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 丁少华 申请(专利权)人: 常州视觉龙机电设备有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01B11/00;G01B11/24;G01R27/02
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 何学成
地址: 213022 江苏省常州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种太阳能硅片的自动检测系统,包括将待检测硅片自动上载到检测平台上的自动上料装置、设置在检测平台上对待检测硅片进行检测的硅片检测装置,以及将检测完的硅片自动下载的自动下料装置,以及分别与自动上料装置、自动下料装置、硅片检测装置电连接的控制运算单元;本设备采用全自动化处理,不需要人工参与,因此检测结果不受人工因素或者环境因素的影响,具有一致性、稳定性和可靠性,节省了人工成本,提高了检测效率、能够完全满足硅片的检测需求。
搜索关键词: 太阳能 硅片 自动检测 系统
【主权项】:
太阳能硅片的自动检测系统,其特征在于:该系统包括将待检测硅片自动上载到检测平台上的自动上料装置、设置在检测平台上对待检测硅片进行检测的硅片检测装置,以及将检测完的硅片自动下载的自动下料装置,以及分别与自动上料装置、自动下料装置、硅片检测装置电连接的控制运算单元;所述硅片检测装置包括对硅片隐裂状况进行检测的隐裂检测装置、对硅片的上下表面进行检测的外观检测装置、采用二维、三维影像摄取装置对硅片几何尺寸及硅片翘曲进行检测的硅片几何尺寸及翘曲检测装置、以及对硅片电阻率进行检测的电阻率检测装置;所述隐裂检测装置、外观检测装置、硅片几何尺寸及翘曲检测装置以及电阻率检测装置分别与控制运算单元电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州视觉龙机电设备有限公司,未经常州视觉龙机电设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020518848.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top