[实用新型]数字摄影测量光学标志无效
| 申请号： | 201020540314.8 | 申请日： | 2010-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN201787950U | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 何耀华;张国方;杨灿;王超敏;廖聪;柯杰 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01C15/06 | 分类号： | G01C15/06;G09F13/16 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 王守仁 |
| 地址： | 430071 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种数字摄影测量光学标志，该数字摄影测量光学标志由反光图标和毛面的黑色磁性橡胶底衬两部分组成，其中：所述反光图标用白色反光材料涂覆在毛面的黑色磁性橡胶底衬表面，该反光图标的形状为圆形或环形。本实用新型能消除被测对象图像的边缘效应，具有几何图标形状简单、便于识别，几何图标的边缘特别清晰，以及几何图标与底衬的对比度足够高等优点，从而能够提高数字摄影测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 摄影 测量 光学 标志 | ||
【主权项】：
一种数字摄影测量光学标志，其特征是由反光图标和毛面的黑色磁性橡胶底衬两部分组成，其中：所述反光图标用白色反光材料涂覆在毛面的黑色磁性橡胶底衬表面，该反光图标的形状为圆形或环形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学，未经武汉理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201020540314.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
