[实用新型]测试机台的定位结构有效
申请号: | 201020595703.0 | 申请日: | 2010-11-08 |
公开(公告)号: | CN201867430U | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 土屋利彦;堀诚一 | 申请(专利权)人: | 港建日置股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/02 |
代理公司: | 北京申翔知识产权代理有限公司 11214 | 代理人: | 艾晶;周春发 |
地址: | 中国台湾桃园县芦*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型的测试机台的定位结构,设有至少一测试基座,该测试基座上并设有一测试治具,用以对被测物进行测试;其中:该测试基座并设有一定位结构,该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空吸孔,该垫体套设于该测试基座顶部外侧,由该真空吸孔吸附该被测物,而使其快速定位于该测试治具上,并可构成被测物与测试治具间接触的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 测试 机台 定位 结构 | ||
【主权项】:
一种测试机台的定位结构,该测试机台设有至少一测试基座,该测试基座上并设有一测试治具,而该测试治具内并设有复数探针,各探针与检测主机连结,由各探针与被测物的被检测点接触而进行测试;其特征在于:该测试基座并设有一定位结构,该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空吸孔,该垫体套设于该测试基座顶部外侧,且该垫体略高于该测试治具,该真空吸孔设于该测试基座并相对设于该测试治具与垫体间,而该吸引组件与该真空吸孔相通,由该真空吸孔吸附该被测物,而使其定位于该测试治具上。
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