[实用新型]用于修复硬核的扫描链测试结构有效
| 申请号： | 201020606548.8 | 申请日： | 2010-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN201867471U | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 王永流;林玉新 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于修复硬核的扫描链测试结构，其包括两个组合逻辑单元，多个寄存器和多个选择器；还包括一个异或门，所述异或门接收来自第一组合逻辑单元的信号；每个寄存器接收来自所述异或门的信号；每个选择器接收来自硬核的信号和相应的寄存器的信号，并输出至第二组合逻辑单元。本实用新型用比较少的成本开销，使得硬核的输入输出变成可观可控。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 修复 扫描 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种用于修复硬核的扫描链测试结构，其包括两个组合逻辑单元，多个寄存器和多个选择器，其特征在于：还包括一个异或门，所述异或门接收来自第一组合逻辑单元的信号；每个寄存器接收来自所述异或门的信号；每个选择器接收来自硬核的信号和相应的寄存器的信号，并输出至第二组合逻辑单元。
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