[实用新型]齿轮测量系统及专用手持活动式光学逆反射器无效
| 申请号： | 201020614756.2 | 申请日： | 2010-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN201900513U | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 史苏存;曲兴华;牛维汉;林超;黄勇;段玲 | 申请（专利权）人： | 二重集团（德阳）重型装备股份有限公司;天津大学;中国计量技术开发总公司;重庆大学 |
| 主分类号： | B23Q17/20 | 分类号： | B23Q17/20;B23Q17/24;G01B11/24 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所 51124 | 代理人： | 王睿;刘世平 |
| 地址： | 618013 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了测量精度高的齿轮测量系统及专用手持活动式光学逆反射器。该系统的全局测量设备采用多路激光干涉追踪系统，该多路激光干涉追踪系统包括至少三台激光干涉追踪仪，与所述至少三台激光干涉追踪仪配合使用的用于对被测齿轮进行空间定位的手持活动式光学逆反射器，以及用于对前端测量设备进行空间定位的固定式光学逆反射器，所述手持活动式光学逆反射器包括反射镜以及与所述反射镜联接并用于使该手持活动式光学逆反射器在被测齿轮的基准面上沿特定方向运动的定位结构。该测量系统及测量方法能够精确对直径为3000～10000mm、最小模数为6mm、精度6级及以上的特大型高精度齿轮进行测量，提高的特大型高精度齿轮的制造水平。 | ||
| 搜索关键词： | 齿轮 测量 系统 专用 手持 活动 光学 逆反 | ||
【主权项】：
齿轮测量系统，包括全局测量设备(12)、前端测量设备(4)以及分别与所述的全局测量设备(12)和前端测量设备(4)相连的数据处理系统，其特征在于：所述全局测量设备(12)采用多路激光干涉追踪系统，该多路激光干涉追踪系统包括至少三台激光干涉追踪仪(1)，与所述至少三台激光干涉追踪仪(1)配合使用从而对被测齿轮(3)进行空间定位的手持活动式光学逆反射器(13)，以及用于与前端测量设备(4)的可活动部分刚性联接的固定式光学逆反射器(16)，所述手持活动式光学逆反射器(13)包括反射镜(8)以及与所述反射镜(8)联接并用于使该手持活动式光学逆反射器(13)在被测齿轮(3)的基准面上沿特定方向运动的定位结构。
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