[实用新型]传感器电老化测试装置有效
| 申请号： | 201020655026.7 | 申请日： | 2010-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN201945645U | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 杨雪飞;陈远谋 | 申请（专利权）人： | 北京七星华创电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01F25/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址： | 100016 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种传感器电老化测试装置，包括上机架、中机架、下机架，中机架和下机架的上表面分别设有测试底板，测试底板上设有多个测试工位，下机架内设有电源稳压模块。中机架与下机架的接合面处设有开合控制装置，包括挡板、底座、中心轴、端盖、弹簧、手轮等。可现实两层传感器同时进行老化，提高了工作效率，节约了工作时间，经过本实用新型老化后的传感器，其工作稳定性有很大的提高。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种传感器电老化测试装置，其特征在于，包括上机架、中机架、下机架，所述中机架和下机架的上表面分别设有测试底板，所述测试底板上设有多个测试工位，所述下机架内设有电源稳压模块。
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