[实用新型]质量流量控制器传感器老化测试装置有效
申请号: | 201020655032.2 | 申请日: | 2010-12-07 |
公开(公告)号: | CN201867459U | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 杨雪飞;陈远谋 | 申请(专利权)人: | 北京七星华创电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 100016 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,老化台盒体的上部设有传感器承放板,老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板,老化台盒体内设有电源模块,老化台盒体的两端上缘分别设有防侧滑挡板。能在传感器绕制完成之后直接进行传感器老化测试,可以使传感器的后续调试中性能稳定可靠。 | ||
搜索关键词: | 质量 流量 控制器 传感器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,其特征在于,所述老化台盒体的上部设有传感器承放板,所述老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板,所述老化台盒体内设有电源模块。
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