[实用新型]一种用于直流开关试验的合成试验回路有效
| 申请号： | 201020677171.5 | 申请日： | 2010-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN201935987U | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 刘朴;洪深;那虎 | 申请（专利权）人： | 中国西电电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 汪人和 |
| 地址： | 710075*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于直流开关试验的合成试验回路，包括电流源和电压源，还包括有第一、二辅助开关，第一、二磁位计；电压源的输出端并联有待测直流开关和第一磁位计的串联电路，第一磁位计的低电位接地；第一、二辅助开关和第二磁位计串联后与待测直流开关和第一磁位计的串联电路并联；第一、二辅助开关之间连接至电流源输出的高电位端，第二磁位计连接至电流源输出端的低电位上。本实用新型用待用电流源和电压源以及相关的实验电路实现了直流开关的合成试验回路，该试验回路在能够保证试验项目稳定工作的情况下，不仅结构简单，而且采用了等价替代的方式，通过使用低频振荡回路代替直流电源，其有效节约了实验室投资。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 直流 开关 试验 合成 回路 | ||
【主权项】：
一种用于直流开关试验的合成试验回路，包括电流源和电压源，其特征在于：还包括有第一、二、辅助开关(FK1、FK2)，第一、二磁位计(CT1、CT2)；所述电压源的输出端并联有直流开关(SP)和第一磁位计(CT1)的串联电路，所述第一磁位计(CT1)的低电位接地；所述第一、二辅助开关(FK1、FK2)和第二磁位计(CT2)串联后与直流开关(SP)和第一磁位计(CT1)的串联电路并联；所述第一、二辅助开关(FK1、FK2)之间连接至电流源输出的高电位端，所述第二磁位计(CT2)连接至电流源输出端的低电位上。
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