[实用新型]一维半导体阵列管有效

专利信息
申请号: 201020687194.4 申请日: 2010-12-17
公开(公告)号: CN202093179U 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 刘建忠;王勇;靳根;杨亚鹏;姚小丽;王晓东;陈法国;刘惠英;周彦坤;刘倍;徐园 申请(专利权)人: 中国辐射防护研究院
主分类号: G01T3/08 分类号: G01T3/08
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 田明;任晓航
地址: 030006 *** 国省代码: 山西;14
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摘要: 实用新型属于辐射测量技术领域,具体涉及一种用于中子辐射探测的一维半导体阵列管。其结构包括设置于电路板上的多个表面涂硼的硅半导体探测器,硅半导体探测器呈直线排布,组成一维半导体探测器阵列,一维半导体探测器阵列的外部设有金属管。本实用新型完全可以代替测量中子用的一维位置灵敏3He正比计数管,而且半导体探测器的数量、尺寸都可根据不同的应用调整,在应用的灵活性方面优势明显。
搜索关键词: 半导体 阵列
【主权项】:
一维半导体阵列管,其特征在于:包括设置于电路板(3)上的多个表面涂硼的硅半导体探测器(1),硅半导体探测器(1)呈直线排布,组成一维半导体探测器阵列,一维半导体探测器阵列的外部设有金属管(2)。
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