[实用新型]测试工装有效
申请号: | 201020694466.3 | 申请日: | 2010-12-31 |
公开(公告)号: | CN202008493U | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 郭利斌 | 申请(专利权)人: | 恒诺微电子(嘉兴)有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/00 |
代理公司: | 杭州天欣专利事务所 33209 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 314000 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种测试工装,其特征是设置有底面滑轨轴、垂直滑轨轴和高位滑轨轴,底面滑轨轴安装在机架的平面上,垂直滑轨轴安装在机架上并与底面滑轨轴垂直,高位滑轨轴安装在垂直滑轨轴上并与垂直滑轨轴垂直,高位滑轨轴上设置有用来安装被测RFID卡的测试平台,底面滑轨轴、垂直滑轨轴、高位滑轨轴上均设置有用来标示被测RFID卡位置的刻度标尺。本实用新型所述垂直滑轨轴和高位滑轨轴均为两个。本实用新型还设置有第二平面轴,第二平面轴安装在机架上,底面滑轨轴安装在第二平面轴上。本实用新型结构设计合理,使用方便,可灵活调节各个方向距离。 | ||
搜索关键词: | 测试 工装 | ||
【主权项】:
一种测试工装,其特征是:设置有底面滑轨轴、垂直滑轨轴和高位滑轨轴,底面滑轨轴安装在机架的平面上,垂直滑轨轴安装在机架上并与底面滑轨轴垂直,高位滑轨轴安装在垂直滑轨轴上并与垂直滑轨轴垂直,高位滑轨轴上设置有用来安装被测RFID卡的测试平台,底面滑轨轴、垂直滑轨轴、高位滑轨轴上均设置有用来标示被测RFID卡位置的刻度标尺。
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