[实用新型]高纯锗探测器定位测量支架无效

专利信息
申请号: 201020696167.3 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN201903655U 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 王仲奇;甘霖;卢文广 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型属于伽玛定量测量技术领域,具体涉及一种高纯锗探测器定位测量支架。该支架包括以下部件:薄膜源固定器1、横向导轨2、测量立杆3、探测器底座4、纵向导轨5和推车6,其中,探测器底座4由3个弧形片状结构组成,探测器底座4和纵向导轨5对向固定在推车6上,测量立杆3的底座安装在纵向导轨5上,测量立杆3垂直于纵向导轨5;在测量立杆3的两根平行立柱的中心轴位置安装了横向导轨2;薄膜源固定器1穿过横向导轨2的两根平行杆。由于该支架是完全独立于探测器探头安装,在使用过程中不会对探头有损伤,放射源可以在立体空间的任意点测量,在测量范围扩大的同时还保证了测量精准度。
搜索关键词: 高纯 探测器 定位 测量 支架
【主权项】:
高纯锗探测器定位测量支架,该支架包括以下部件:薄膜源固定器(1)、横向导轨(2)、测量立杆(3)、探测器底座(4)、纵向导轨(5)、推车(6)和滑块(12),其中探测器底座(4)由3个弧形片状结构组成,纵向导轨(5)是两条平行轨道,测量立杆(3)由两根平行立柱组成,探测器底座(4)和纵向导轨(5)固定在推车(6)上,测量立杆(3)的底座安装在纵向导轨(5)上,测量立杆(3)垂直于纵向导轨(5),测量立杆(3)的两根平行立柱中心轴位置安装了滑块(12);横向导轨(2)的一端与滑块(12)轴连接;薄膜源固定器(1)穿过横向导轨(2)的两根平行杆。
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