[实用新型]一种光学器件的测试系统有效
| 申请号： | 201020696413.5 | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN201965015U | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 扶廷勇;许武 | 申请（专利权）人： | 深圳展景世纪科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型适用于光学应用领域，提供了一种光学器件的测试系统，包括：采光面板；与所述待测光机连接、控制待测光机点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。本实用新型通过采集待测光机投射在采光面板上的光，从而计算出在采光面板上的光的亮度和均匀度，单片机单元再将亮度与均匀度结果与设计规格中的参数进行对比，从而判断待测光机是否符合设计要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光学器件的测试系统，其特征在于，包括：采集待测光机的光信号的采光面板；与待测光机连接、控制待测光机点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳展景世纪科技有限公司，未经深圳展景世纪科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201020696413.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种伽玛星轴承的噪音测量装置
- 下一篇：一种光畸变检测台
