[发明专利]用于光学地测量产品表面的方法和设备有效
| 申请号： | 201080002245.8 | 申请日： | 2010-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN102282440A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | R·F·维泽 | 申请（专利权）人： | 韦崔斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 南毅宁;周建秋 |
| 地址： | 捷克霍沃*** | 国省代码： | 捷克;CZ |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于光学地测量被测试产品(5)、尤其是PCB产品的表面以进行回流焊膏检查的设备(10)、方法及其应用。该设备包括用于发射白光射束的至少一个白光光源(1)、用于使白光射束(30)准直的至少一个准直单元(4)、用于将白光射束(30)分离成被以预定入射角γ指引到被测试产品(5)上的多色光束(31)的至少一个分光计单元以及用于记录测试产品(5)的反射的单色光束(32)的至少一个照相机(3)，其中，分光计单元优选地为光学棱镜(2)或光学衍射光栅(51)。被测试产品(5)的z轴表面高度信息能够在使被测试产品(5)沿着x轴扫描方向(9)相对移动的同时从所述反射的单色光束(32)的色调值中提取。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 测量 产品 表面 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于光学地测量被测试产品(5)、尤其是PCB产品的表面以进行回流焊膏检查的设备(10)，该设备(10)包括用于发射白光射束的至少一个白光光源(1)、用于使所述白光射束(30)准直的至少一个准直单元(4)、用于将所述白光射束(30)分离成被以预定入射角γ指引到所述被测试产品(5)上的多色光束(31)的至少一个分光计单元以及用于记录所述被测试产品(5)的反射的单色光束(32)的至少一个照相机(3)，从而使得在使所述被测试产品(5)沿着x轴扫描方向(9)相对移动的同时能够从所述反射的单色光束(32)的色调值中提取所述被测试产品(5)的z轴表面高度信息，其中，所述分光计单元优选地为光学棱镜(2)或光学衍射光栅(51)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韦崔斯股份有限公司，未经韦崔斯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080002245.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
