[发明专利]具有光性能监测器的波分复用系统无效
申请号: | 201080003272.7 | 申请日: | 2010-04-22 |
公开(公告)号: | CN102933997A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | C·林 | 申请(专利权)人: | 奥兰若(北美)有限公司 |
主分类号: | G02B6/12 | 分类号: | G02B6/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;王忠忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本说明书描述了光性能监测器,其通过耦合单个可调光滤波器到正被监测的多个信道被简化。可同时进行对一个以上信道的光学测量。该光系统结构优选为用于WDM系统的光性能监测器。在根据本发明设计的系统中,n个信道可以通过使用n个光电检测器、n个光分离器,但仅有n/2个可调光滤波器被监测。附加的系统简化可通过使用耦合到光分离器的光切换元件获得。 | ||
搜索关键词: | 有光 性能 监测器 波分复用 系统 | ||
【主权项】:
用于光学监测多信道的方法,包括:a)耦合第一光信道到第一三端口光分离器的输入端口,b)耦合第二光信道到第二三端口光分离器的输入端口,b)耦合第一三端口分离器的输入/输出端口到可调光滤波器的第一输入/输出端口,c)耦合可调光滤波器的第二输入/输出端口到第二三端口光分离器的输入/输出端口,d)耦合第一三端口分离器的输出端口到第一光电检测器,e)耦合第二三端口分离器的输出端口到第二光电检测器,f)扫描可调光滤波器,和g)测量第一和第二光电检测器的输出。
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