[发明专利]荧光检测装置及荧光检测方法

摘要

本发明提供一种荧光检测装置及荧光检测方法，在该荧光检测装置中，相对于n种测量对象物发出的各荧光，在按照测量对象物k(k＝1～n的整数)发出的荧光的荧光强度相对于其它测量对象物发出的荧光的荧光强度高的方式设定的多个波段FLk(k＝1～n的整数)接收荧光，并得到对应于波段FLk的荧光信号，通过将该各荧光信号与对对应于波段FLk的至少一个波段的激光Lk(k＝1)进行强度调制的调制信号混合并进行降频转换，生成包括荧光信号的相位滞后和强度振幅的荧光数据，对该荧光数据进行校正，由此计算出相位滞后，并根据该相位滞后计算出荧光弛豫时间。

主权项

一种荧光检测装置，该装置接收n种(n是2以上的整数)测量对象物受到激光照射后发出的荧光，且对所接收的荧光的多个荧光信号进行信号处理，该荧光检测装置包括：光源部，相对于所述n种测量对象物的各个测量对象物，利用多个不同频率对按照测量对象物k(k＝1～n的整数)的光吸收特性与其它测量对象物的光吸收特性不同的方式与测量对象物k相对应地准备的多个波长的激光Lk进行强度调制，并作为一个照射光发射；受光部，包括多个受光元件，其中，相对于n种测量对象物被照射光照射后所发出的各个荧光，在按照测量对象物发出的荧光的荧光强度与其它测量对象物发出的荧光的荧光强度不同的方式与测量对象物k(k＝1～n的整数)相对应地设定的多个波段FLk(k＝1～n的整数)中接收荧光，并输出对应于波段FLk的荧光信号；第一处理部，将对与所述波段FLk(k＝1～n的整数)中至少一个波段对应的激光Lk进行强度调制的调制信号作为第一参照信号使用，并通过将该调制信号与所输出的各所述荧光信号混合且进行降频转换处理，由此生成包括所述荧光信号的相位滞后和强度振幅的荧光数据；第二处理部，对已生成的所述荧光数据进行校正，并利用该校正后的荧光数据求出所述荧光信号的相位滞后，并根据该相位滞后计算出荧光弛豫时间。