[发明专利]电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备

摘要

提供一种电子照相感光构件，其能够再现正重影很少的良好图像，并具有良好的感光性，该电子照相感光构件在其感光层中引入共聚物，所述共聚物含有由式(1)表示的重复结构单元和由式(2)表示的重复结构单元，或者所述共聚物含有由式(1)表示的重复结构单元和由式(3)表示的重复结构单元。

主权项

1.一种电子照相感光构件，其包括支承体和形成于所述支承体上的感光层，其中所述感光层包含具有由下式(1)表示的重复结构单元和由下式(2)表示的重复结构单元的共聚物，或者具有由下式(1)表示的重复结构单元和由下式(3)表示的重复结构单元的共聚物：其中在式(1)、(2)和(3)中，Z₁至Z₆各自独立地表示单键、亚烷基、亚芳基或用烷基取代的亚芳基；E₁表示由-W₁-B₁-W₁-表示的二价基团，或者由下式(E11)表示的二价基团：其中X₁表示通过从环烃中去掉四个氢原子形成的四价基团；E₄表示由-W₃-B₄-W₃-表示的二价基团，或者由下式(E41)表示的二价基团：其中X₄表示通过从环烃中去掉四个氢原子形成的四价基团；W₁至W₃各自独立地表示单键、氨基甲酸酯键、脲键或酰亚胺键；A表示由任一下式(A-1)至(A-8)表示的二价基团：其中，在式(A-1)至(A-8)中，R₁₀₁至R₁₀₄各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，或氰基，或者表示键合位点；R₁₀₅和R₁₀₆各自独立地表示氢原子，芳基，用烷基或卤素原子取代的芳基，或烷基，或者表示键合位点；条件是R₁₀₁至R₁₀₆中的任意二个是键合位点；R₂₀₁至R₂₀₈各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，或氰基，或者表示键合位点；R₂₀₉和R₂₁₀各自独立地表示氢原子，芳基，用烷基或卤素原子取代的芳基，或烷基，或者表示键合位点；条件是R₂₀₁至R₂₁₀中的任意二个是键合位点；R₃₀₁至R₃₀₈各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，或硝基，或者表示键合位点；R₃₀₉表示氧原子或二氰基亚甲基；R₃₁₀和R₃₁₁各自独立地表示碳原子或氮原子，并且，在氮原子的情况下，R₃₀₄和R₃₀₅不存在；条件是R₃₀₁至R₃₀₈中的任意二个是键合位点；R₄₀₁至R₄₀₆各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，或硝基，或者表示键合位点；R₄₀₇表示氧原子或二氰基亚甲基；条件是R₄₀₁至R₄₀₆中的任意两个是键合位点；R₅₀₁至R₅₀₈各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，或硝基，或者表示键合位点；R₅₀₉和R₅₁₀各自独立地表示氧原子或二氰基亚甲基；R₅₁₁和R₅₁₂各自独立地表示碳原子或氮原子，并且，在氮原子的情况下，R₅₀₁和R₅₀₅不存在；条件是R₅₀₁至R₅₀₈中的任意两个是键合位点；R₆₀₁至R₆₀₈各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或羧酸酯基，或者表示键合位点；R₆₁₀和R₆₁₁各自独立地表示碳原子或氮原子，并且，在氮原子的情况下，R₆₀₄和R₆₀₅不存在；R₆₀₉表示二氰基亚甲基；条件是R₆₀₁至R₆₀₈中的任意二个是键合位点；R₇₀₁至R₇₁₃各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或羧酸酯基，或者表示键合位点；R₇₁₄和R₇₁₅各自独立地表示碳原子或氮原子，并且，在氮原子的情况下，R₇₀₄和R₇₀₅不存在；条件是R₇₀₁至R₇₁₃中的任意两个是键合位点；和R₈₀₁至R₈₀₈各自独立地表示氢原子，芳基，用卤素原子、硝基、氰基、烷基或烷基卤化物基取代的芳基，烷基，氰基，或硝基，或者表示键合位点；条件是R₈₀₁至R₈₀₈的任意两个是键合位点；B₁和B₄各自独立地表示亚芳基，亚烷基，亚烷芳基，用烷基、卤素原子、氰基或硝基取代的亚芳基，用卤素原子、氰基或硝基取代的亚烷基，用烷基、卤素原子、氰基或硝基取代的亚烷芳基，由醚或磺酰基中断的亚芳基，或由醚中断的亚烷基；和B₂和B₃各自独立地表示仅用羧基取代的亚芳基；仅用羧基和烷基取代的亚芳基；或仅用羧基取代的亚烷基。