[发明专利]样品分析装置无效
| 申请号： | 201080006474.7 | 申请日： | 2010-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN102308199A | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 横山一成 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01J3/18 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 周善来;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种可以得到高精度的测定结果的样品分析装置，该样品分析装置包括：样品池部(2)，构成多个池空间(S1)、(S2)；光源部(31)、(32)，向各池空间(S1)、(S2)照射相互不同波长范围的光；多个准直镜(61)、(62)，与各池空间(S1)、(S2)的每一个对应设置，使透射过池空间(S1)、(S2)的透射光成为平行光；衍射光栅(7)，对通过准直镜(61)、(62)成为了平行光的反射光进行分光；聚光镜(9)，对通过衍射光栅(7)分光后的光进行聚光；以及光检测器(10)，对通过聚光镜(9)聚集后的光进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种样品分析装置，利用通过对样品照射光而得到的吸收光谱来分析样品的成分浓度，所述样品分析装置的特征在于包括：样品池部，构成具有相互不同池长的多个池空间；光源部，向各所述池空间照射相互不同波长范围的光；多个准直镜，与各所述池空间的每一个对应设置，使透射过所述池空间的透射光成为平行光；衍射光栅，对通过所述准直镜成为了平行光的反射光进行分光；聚光镜，对通过所述衍射光栅分光后的光进行聚光；以及光检测器，对通过所述聚光镜聚集后的光进行检测，其中，以使从各准直镜朝向所述衍射光栅的反射光的入射角度相互不同的方式设置所述多个准直镜。
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