[发明专利]太阳能生产线的计量与检测套组有效
申请号: | 201080006560.8 | 申请日: | 2010-02-02 |
公开(公告)号: | CN102725859A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 米歇尔·R·弗赖;王大鹏;苏杰发;维基·斯韦丹科;卡什夫·马克苏德 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L31/042 | 分类号: | H01L31/042;H01L21/66 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;钟强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的实施例通常涉及使用处理模组用以形成太阳能电池器件的系统,其中该处理模组经调整以在形成太阳能电池器件时执行一个或多个工艺。在一实施例中,该系统经调整以形成薄膜太阳能电池器件,这是通过接收大型未处理的基板和执行多重沉积、材料移除、清洗、切片、粘接、和各种检测和测试程式,以形成多个完整的、具功能性的、和经过测试的太阳能电池器件,然后可将该太阳能电池器件运到终端使用者,用以安装于所期望位置,来产生电力。在一实施例中,该系统在各种层的形成中提供对太阳能电池器件的检测,同时收集和使用计量资料来诊断、调整或改善在生产太阳能电池器件期间的生产线的生产流程。 | ||
搜索关键词: | 太阳能 生产线 计量 检测 | ||
【主权项】:
一种太阳能电池生产线,所述太阳能电池生产线包括:多个自动化装置,所述多个自动化装置配置为沿着路径连续地传输基板;第一光学检测模组,所述第一光学检测模组沿着该路径定位,以接收基板,该基板上沉积有正面接触层,所述第一光学检测模组定位在一个或多个丛集工具的上游,所述一个或多个丛集工具有至少一个处理腔室,所述至少一个处理腔室经调适以沉积含硅层在该基板的表面,其中该光学检测模组包括检测装置,所述检测装置定位以检视该基板的区域且配置为以光学方式接收关于在该被检视的区域上是否存在缺陷的资讯;薄膜特征模组,所述薄膜特征模组沿着位于所述一个或多个丛集工具下游的路径定位,并具有一个或多个检测装置,所述一个或多个检测装置配置为检测设置在该基板的该表面上的该含硅层的区域,使得可确定相关于该含硅层的厚度的资讯;以及系统控制器元件,所述系统控制器元件与这些模组的每一个连通,并配置为分析从这些模组的每一个接收到的资讯及发出指示,以在该生产线内对这些模组的一个或多个采取改正措施。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的