[发明专利]定制的分子印迹聚合物(MIP)单元有效

专利信息
申请号: 201080007166.6 申请日: 2010-02-10
公开(公告)号: CN102317322A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 阿纳扎·克勒泽;克里斯蒂娜·赖姆霍特;比约恩·勒温;比约恩·马尔默;叶磊;吉松惠一 申请(专利权)人: 依米戈有限公司
主分类号: C08F2/44 分类号: C08F2/44;C08F2/06;B01J20/26;C08F8/00;B01D15/38;G01N33/58;C08F8/14;C08F8/10;C08F220/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王旭
地址: 瑞典*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 一种制备至少一个定制的MIP单元的方法,所述方法包括:(a)提供至少一个MIP单元,所述MIP单元具有包括至少一个靶结合位点和表面结合的可带电荷的基团的表面,所述靶结合位点被配置为类似靶分子;(b)将来自步骤(a)的所述一个或多个MIP单元与至少一个模板分子在第一溶剂中接触,使得所述一个或多个模板分子能够结合至所述一个或多个MIP单元;(c)通过加入钝化剂钝化所述一个或多个MIP单元上的表面结合的可带电荷的基团;以及(d)通过在第二溶剂中冲洗移除所述一个或多个模板分子,其中所述钝化剂通过在所述第二溶剂中的冲洗时保持稳定的键结合至所述一个或多个单元的表面。
搜索关键词: 定制 分子 印迹 聚合物 mip 单元
【主权项】:
一种制备至少一个定制的MIP单元的方法,所述方法包括以下步骤:(a)提供至少一个MIP单元,所述MIP单元具有表面,所述表面包括至少一个靶结合位点和表面结合的可带电荷的基团,所述靶结合位点被配置为类似靶分子;(b)将来自所述步骤(a)的所述一个或多个MIP单元与至少一个模板分子在第一溶剂中接触,使得所述一个或多个模板分子能够结合至所述一个或多个MIP单元;(c)通过加入钝化剂钝化所述一个或多个MIP单元上的所述表面结合的可带电荷的基团;以及(d)通过在第二溶剂中冲洗移除所述一个或多个模板分子,其中所述钝化剂通过在所述第二溶剂中的冲洗时保持稳定的键结合至所述一个或多个单元的所述表面。
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