[发明专利]分析装置有效
申请号: | 201080008373.3 | 申请日: | 2010-01-18 |
公开(公告)号: | CN102326073A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 野上真;桥本雄一郎;和气泉;神田胜弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N1/10;G01N33/551 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种使用多个拟化合物,并且不需要制作校准曲线就能够准确校正的技术。此外,还提供一种对于多成分的测定对象物质混在一起的样品,不使用各自的稳定同位素标记物质作为内部标准物质也能够校正的技术。一种分析装置,其具有包含固相提取机构的前处理装置,以及在将用该前处理装置前处理后的样品离子化后进行质量分析的质量分析装置,并且该分析装置还具有存储前述样品中阻碍离子化的物质的浓度、测定对象物质和内部标准物质的信号强度依存性、以及回收率相关数据的存储部,和基于前述存储部中存储的前述数据对前述样品以及前述内部标准物质的测定结果进行校正的校正部。 | ||
搜索关键词: | 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种分析装置,其特征在于,具有包含固相提取机构的前处理装置,以及在将用该前处理装置前处理后的样品离子化后进行质量分析的质量分析装置,并且该分析装置还具有存储前述样品中阻碍离子化的物质的浓度、和测定对象物质和内部标准物质的信号强度依存性、及回收率的相关数据的存储部,并且该分析装置还具有基于前述存储部中存储的前述数据对前述样品以及前述内部标准物质的测定结果进行校正的校正部。
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