[发明专利]分析装置有效

专利信息
申请号: 201080008373.3 申请日: 2010-01-18
公开(公告)号: CN102326073A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 野上真;桥本雄一郎;和气泉;神田胜弘 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N1/10;G01N33/551
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶;於毓桢
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种使用多个拟化合物,并且不需要制作校准曲线就能够准确校正的技术。此外,还提供一种对于多成分的测定对象物质混在一起的样品,不使用各自的稳定同位素标记物质作为内部标准物质也能够校正的技术。一种分析装置,其具有包含固相提取机构的前处理装置,以及在将用该前处理装置前处理后的样品离子化后进行质量分析的质量分析装置,并且该分析装置还具有存储前述样品中阻碍离子化的物质的浓度、测定对象物质和内部标准物质的信号强度依存性、以及回收率相关数据的存储部,和基于前述存储部中存储的前述数据对前述样品以及前述内部标准物质的测定结果进行校正的校正部。
搜索关键词: 分析 装置
【主权项】:
一种分析装置,其特征在于,具有包含固相提取机构的前处理装置,以及在将用该前处理装置前处理后的样品离子化后进行质量分析的质量分析装置,并且该分析装置还具有存储前述样品中阻碍离子化的物质的浓度、和测定对象物质和内部标准物质的信号强度依存性、及回收率的相关数据的存储部,并且该分析装置还具有基于前述存储部中存储的前述数据对前述样品以及前述内部标准物质的测定结果进行校正的校正部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080008373.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top