[发明专利]前带现象检测方法、分析方法、前带现象检测装置和分析装置有效

专利信息
申请号: 201080009898.9 申请日: 2010-07-16
公开(公告)号: CN102341706A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 长谷川洋典;大代京一;福永悟志 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 肖善强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供前带现象检测方法,所述前带现象检测方法即使使用现有的待测物分析用具也能够简易地检测前带现象的产生,能够高效进行使用免疫色谱法等的检查。该方法特征在于,使用含有与试样中的分析对象成分特异性结合的物质的待测物分析用具,所述待测物分析用具为在多孔基材上从所述试样的移动方向的上游向下游配置有试样供给部、试剂部和检测部的待测物分析用具,所述试剂部含有与所述分析对象成分特异性结合的标记化物质,所述检测部含有与所述分析对象成分特异性结合的固定化物质,通过在所述检测部对所述分析对象成分、所述标记化物质和所述固定化物质的复合物检测所述标记化物质的所述标记,从而所述分析对象成分得以检测,所述方法包含下述A法和B法中的至少一种。A法:在所述检测部,沿着所述试样的移动方向对检测结果作图,由所述图的峰的位置检测前带现象的产生的方法;B法:在所述检测部,改变时间而实施2次以上所述标记的检测,由获得的2个以上检测结果的大小关系检测前带现象的产生的方法。
搜索关键词: 现象 检测 方法 分析 装置
【主权项】:
一种前带现象检测方法,其特征在于,使用含有与试样中的分析对象成分特异性结合的物质的待测物分析用具,所述待测物分析用具为在多孔基材上从所述试样的移动方向的上游向下游配置有试样供给部、试剂部和检测部的待测物分析用具,所述试剂部含有与所述分析对象成分特异性结合的标记化物质,所述检测部含有与所述分析对象成分特异性结合的固定化物质,通过在所述检测部对所述分析对象成分、所述标记化物质和所述固定化物质的复合物检测所述标记化物质的所述标记,从而检测所述分析对象成分,所述方法包含下述A法和B法中的至少一种,A法:在所述检测部,沿着所述试样的移动方向对检测结果作图,由所述图的峰的位置检测前带现象的产生;B法:在所述检测部,改变时间而实施2次以上所述标记的检测,由获得的2个以上检测结果的大小关系检测前带现象的产生。
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