[发明专利]用于测量作用区域中的磁性材料的设备和方法无效
| 申请号： | 201080011029.X | 申请日： | 2010-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN102348994A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | G·尼撒托;H·M·B·伯芬 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;A61B5/05 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 舒雄文;蹇炜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量第三介质(206)中的少量的第一介质(202)和/或所述第一介质(202)中的少量的物质的设备(10)，所述第三介质(206)包括所述第一介质(202)和第二介质(204)，所述第二介质(204)包括已知浓度的磁性材料，其中，所述设备包括：磁性装置(12)，用于在作用区域(22)中提供可变磁场(20)，其中，设置所述第三介质(206)的探针(18；208)用于测量，接收装置(14)，用于在施加所述可变磁场(20)后获取所述作用区域(22)中的所述探针(12)的磁化的探测信号，以及-评估装置(214)，用于评估所述探测信号并将所述探测信号与至少一个校准样本的磁化的校准测量结果进行比较，以推导关于所述第三介质(206)中的所述第一介质(202)的量和/或所述第一介质(202)中的所述物质的量的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 作用 区域 中的 磁性材料 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量第三介质(206)中的少量的第一介质(202)和/或所述第一介质(202)中的少量的物质的设备(10)，所述第三介质(206)包括所述第一介质(202)和第二介质(204)，所述第二介质(204)包括已知浓度的磁性材料，其中，所述设备包括：‑磁性装置(12)，用于在作用区域(22)中提供可变磁场(20)，其中，设置所述第三介质(206)的探针(18；208)用于测量，‑接收装置(14)，用于在施加所述可变磁场(20)后获取所述作用区域(22)中的所述探针(12)的磁化的探测信号，以及‑评估装置(214)，用于评估所述探测信号并将所述探测信号与至少一个校准样本的磁化的校准测量结果进行比较，以推导关于所述第三介质(206)中的所述第一介质(202)的量和/或所述第一介质(202)中的所述物质的量的信息。
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