[发明专利]用于借助于电磁射线、尤其是借助于X射线检查物体的设备无效

专利信息
申请号: 201080011681.1 申请日: 2010-03-24
公开(公告)号: CN102349001A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: E·基尔斯滕;R·克雷默;F·亨普;S·奥斯特 申请(专利权)人: 史密斯海曼有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 赵科
地址: 德国威*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于以至少一个检查单元(2,3)借助于电磁射线检查物体的设备,所述设备具有至少一个设置在能移动的箱式壳体(2.1)中的用于生成电磁辐射(2.2)的辐射源和至少一个对应于所述辐射源的探测器装置(2.3),其中所述检查设备(1)包括各自具有至少一个辐射源的至少两个并排设置的检查单元(2,3),所述检查单元(2,3)设置为使得从不同方向照射所述物体。
搜索关键词: 用于 借助于 电磁 射线 尤其是 检查 物体 设备
【主权项】:
一种用于以至少一个检查单元(2,3)借助于电磁射线检查物体的设备,所述设备具有至少一个设置在能移动的箱式壳体(2.1)中的用于生成电磁辐射(2.2)的辐射源和至少一个对应于所述辐射源的探测器装置(2.3),其特征在于,所述检查设备(1)包括各自具有至少一个辐射源的至少两个并排设置的检查单元(2,3),所述检查单元(2,3)设置为使得从不同方向照射所述物体。
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