[发明专利]连续测量基质浓度的方法有效
| 申请号： | 201080011895.9 | 申请日： | 2010-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN102348414A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 胜木幸治;塚田理志 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | A61B5/1473 | 分类号： | A61B5/1473;A61B5/1486;G01N27/327;G01N27/416;G01N33/66 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供分析设备，该分析设备能够满足小型化和保证高灵敏度的要求并容易制造。本发明涉及基于向传感器施加电压时的响应而连续测量基质浓度的方法。本发明包括：响应电压施加步骤，施加响应电压E2，在该响应电压处获得由基质引起的响应；以及非响应电压施加步骤，施加非响应电压E1，在该非响应电压处不获得或基本不获得由基质引起的响应。优选地，交替反复地执行响应电压施加步骤和非响应电压施加步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 连续 测量 基质 浓度 方法 | ||
【主权项】：
一种基于向传感器施加电压时的响应而连续测量基质浓度的方法，该方法包括：响应电压施加步骤，施加响应电压，在所述响应电压处获得由基质引起的响应；以及非响应电压施加步骤，施加非响应电压，在所述非响应电压处不获得或基本不获得由所述基质引起的响应。
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