[发明专利]半导体装置和使用所述半导体装置的太阳能电池有效

专利信息
申请号: 201080015250.2 申请日: 2010-04-06
公开(公告)号: CN102388460A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 裕谷重德 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H01L31/042 分类号: H01L31/042
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 陈平
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体装置,所述半导体装置使用带有阳极氧化膜充当绝缘层的绝缘化金属基板,其提供有绝缘层的高耐受电位和降低的漏电流变化,从而提供了良好的绝缘特性。该半导体装置包括:绝缘化金属基板(10)上的半导体电路,所述绝缘化金属基板(10)包含形成在Al基板(11)的至少一侧上的阳极氧化膜(12),其中当半导体电路运行时,Al基板(11)的电位高于半导体电路的平均电位。
搜索关键词: 半导体 装置 使用 太阳能电池
【主权项】:
一种半导体装置,所述半导体装置包括:绝缘化金属基板上的半导体电路,所述绝缘化金属基板包括形成在Al基板的至少一侧上的阳极氧化膜,其中所述Al基板连接至所述半导体电路中具有比所述半导体电路的平均电位高的电位的位置。
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