[发明专利]用于进行相衬测量的检测装置和X射线断层摄影仪以及进行相衬测量的方法

摘要

本发明涉及一种用于进行相衬测量的检测装置(1)，其包括至少两个前后布置的转换层(2，3)，其中，至少沿射线方向(8)的第一转换层(2)具有复数个交替布置的灵敏区域(9)和灵敏度较低区域(10)，所述灵敏区域的吸收度较高，以便将入射射线量子转换成信号，所述灵敏度较低区域的吸收度相对较低。与基于光栅的干涉图测量相比，通过这种方式可以在保持图像质量不变的情况下，用更少的X射线剂量以更短的摄制时间产生相衬图像。此外通过快速检测信号序列，可以校正重建图像中的运动伪影和/或识别及校正扫描几何结构的变化。本发明还涉及一种相应的X射线断层摄影仪(15)和一种进行相衬测量的方法。

主权项

一种用于进行相衬测量的检测装置(1)，包括至少两个前后布置的转换层(2，3)，其中，至少沿射线方向(8)的第一转换层(2)具有复数个交替布置的灵敏区域(9)和灵敏度较低区域(10)，所述灵敏区域的吸收度较高，以便将入射射线量子转换成信号，所述灵敏度较低区域的吸收度相对较低。