[发明专利]通过阻抗谱表征电系统的特性的方法有效
| 申请号： | 201080017205.0 | 申请日： | 2010-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN102439471A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | C·图尔平;A·拉库通德赖尼比 | 申请（专利权）人： | 赫利恩公司;图卢兹国立综合科技研究院;国家科研中心;V·普利波托 |
| 主分类号： | G01R31/36 | 分类号： | G01R31/36;H01M8/04 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;孙海龙 |
| 地址： | 法国普*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及通过阻抗谱更精确地表征电系统的特性的方法。所述方法包括：对所述电系统施加包括正弦扰动的序列的输入信号，以扫描频率的源系列(A)；响应于针对所施加的各个扰动的所述输入信号，测量所述电系统的输出信号；以及针对各个所施加的扰动、估计所述电系统的阻抗的特征量，其特征在于，施加所述扰动的序列，以轮流地扫描从所述源系列(A)得到的频率的多个子系列(A1、...、An)，所述多个子系列的各个子系列与相同的多个子系列的至少一个其它子系列交织。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 阻抗 谱表 系统 特性 方法 | ||
【主权项】：
一种用于表征电系统的特性的方法，该方法包括以下步骤：‑在所述电系统的极化点周围对所述电系统施加输入信号，所述输入信号包括正弦电流扰动或电压扰动的序列，各个扰动具有属于频率的源系列(A)的不同频率；‑响应于所述输入信号，针对各个所施加的扰动，测量所述电系统的输出信号；‑针对各个所施加的扰动，估计所述电系统的阻抗的特征大小，阻抗的特征大小的所述估计的集合表征所述电系统的特性，其特征在于，施加所述扰动的序列，以依次扫描从所述源系列(A)得到的频率的多个子系列(A1、...、An)，所述多个子系列中的各个子系列与同一所述多个子系列的至少一个其它子系列交织。
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