[发明专利]Ge-Sb-Te膜的成膜方法和存储介质无效

专利信息
申请号: 201080017631.4 申请日: 2010-06-02
公开(公告)号: CN102405518A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 河野有美子;有马进 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/365 分类号: H01L21/365;C23C16/18;C23C16/30;G11B7/26;H01L45/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种Ge-Sb-Te膜的成膜方法和存储介质。该成膜方法是使用气体状的Ge原料、气体状的Sb原料、气体状的Te原料、利用CVD在基板上形成Ge2Sb2Te5的Ge-Sb-Te膜的Ge-Sb-Te膜的成膜方法,其包括:将基板配置在处理容器内的工序(工序1);将气体状的Ge原料和气体状的Sb原料导入到处理容器内而在基板上进行第1阶段的成膜的工序(工序2);将气体状的Sb原料和气体状的Te原料导入到处理容器内而在第1阶段的成膜中得到的膜上进行第2阶段的成膜的工序(工序3);由利用工序2得到的膜、利用工序3得到的膜得到Ge-Sb-Te膜。
搜索关键词: ge sb te 方法 存储 介质
【主权项】:
一种Ge‑Sb‑Te膜的成膜方法,其是使用气体状的Ge原料、气体状的Sb原料、气体状的Te原料、利用CVD在基板上形成Ge2Sb2Te5的Ge‑Sb‑Te膜的Ge‑Sb‑Te膜的成膜方法,其中,该Ge‑Sb‑Te膜的成膜方法包括:将基板配置在处理容器内的工序;将气体状的Ge原料和气体状的Sb原料、或者、除它们之外还将不会形成Ge2Sb2Te5的程度的少量的气体状的Te原料导入到上述处理容器内而在基板上进行第1阶段的成膜的工序;将气体状的Sb原料和气体状的Te原料、或者、除它们之外还将不会形成Ge2Sb2Te5的程度的少量的气体状的Ge原料导入到上述处理容器内而在利用上述第1阶段的成膜得到的膜上进行第2阶段的成膜的工序;由利用上述第1阶段的成膜得到的膜、利用上述第2阶段的成膜得到的膜能够得到上述Ge‑Sb‑Te膜。
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