[发明专利]采用液晶的分析物检测有效
| 申请号： | 201080018339.4 | 申请日： | 2010-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN102414554A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | N·L·阿伯特;M-H·林;C·J·墨菲;J·K·古普塔 | 申请（专利权）人： | 威斯康星校友研究基金会 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 杨帆 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 描述了使用微米级分散液晶结构域中的缺陷变化以检测或定量测试样品中分析物的装置和方法，所述分析物包括内毒素脂多糖(LPS)。使分散的液晶微结构域接触测试样品，通过检测微结构域的锚定构型变化来测定液晶微结构域中缺陷数量的任何变化。这种锚定构型变化指示测试样品中存在分析物。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 液晶 分析 检测 | ||
【主权项】：
一种检测测试样品中分析物的基于液晶的传感器，所述传感器包括：(a)一个或多个由界面限制的液晶微结构域，所述界面在液晶微结构域中产生一个或多个缺陷；和(b)能鉴定所述液晶微结构域的取向序的检测器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于威斯康星校友研究基金会，未经威斯康星校友研究基金会许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080018339.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
