[发明专利]用于对硅片进行掺硼的方法有效
申请号: | 201080019362.5 | 申请日: | 2010-04-06 |
公开(公告)号: | CN102428540B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | Y·佩里格林 | 申请(专利权)人: | 塞姆科工程股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223;H01L21/225;H01L21/00;C30B31/02;C30B31/12;C30B31/16 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 刘佳,丁晓峰 |
地址: | 法国蒙*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种对放置在炉子腔室中的衬底上的硅片进行P型掺硼的方法,腔室的一端包括壁,用于引入反应气体和气态形式硼前驱物的运载气体的装置位于该壁中,由此所述方法包括以下阶段a)在腔室中,在1kPa‑30kPa的压力下并在800℃‑1100℃的温度下,使反应气体与在运载气体中稀释的三氯化硼BCl3反应,以形成氧化硼B2O3玻璃层,b)在N2+O2的气氛下并在1kPa‑30kPa的压力下,在硅中实施硼原子的扩散。本发明还涉及用于实施所述掺硼方法的炉子及其应用,用于制造大的掺硼硅片,尤其用于光伏应用。 | ||
搜索关键词: | 用于 硅片 进行 方法 | ||
【主权项】:
用于对放置在炉子的腔室(3)中的衬底(2)上的硅片(1)进行掺硼的工艺,所述腔室的一端包括壁(4),用于引入反应气体和气态形式硼前驱物的运载气体的装置位于所述壁中,其特征在于,所述工艺包括以下阶段:a)‑在所述腔室中(3),在1kPa-30kPa的压力下且在800℃-1100℃的温度下,使所述反应气体与在所述运载气体中稀释的三氯化硼BCl3反应,以形成氧化硼B2O3玻璃层;b)‑在N2+O2的气氛下并在15kPa-30kPa的压力下,在硅中实施硼的扩散。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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