[发明专利]用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法有效
| 申请号： | 201080020227.2 | 申请日： | 2010-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN102422148A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | T.T.莎士比亚;J.F.莎士比亚 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01N21/86;B65H7/02;B65H43/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;蒋骏 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法包括采用第一光(108,208,308,504,604,802)照射(902)材料(102,202,302)并且捕获(904)透射通过所述材料的第二光(114-116,214-216,314-316,804,808,814,816,822)的图像(400,700)。所述方法还包括分析(908)所述图像的多个区(402-406,702)并且基于所述分析确定(910)与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果。所述方法进一步包括存储和/或输出(910)所述一个或多个雾度测量结果。分析所述图像的多个区可以包括计算每个区中的像素值的总和以为该区产生总的像素值。所述图像的多个区可以包括：(i)形成第一圆盘的第一区；(ii)形成环绕所述第一区的第一环形区或大于并且包括所述第一圆盘的第二圆盘的第二区；以及(iii)形成环绕所述第二区的第二环形区或大于并且包括所述第一和第二圆盘的第三圆盘的第三区。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 片状 材料 其它 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：采用第一光 (108, 208, 308, 504, 604, 802)照射(902)材料(102, 202, 302)；捕获(904)透射通过所述材料的第二光 (114‑116, 214‑216, 314‑316, 804, 808, 814, 816, 822)的图像(400, 700)；分析(908)所述图像的多个区(402‑406, 702)；基于分析所述多个区来确定(910)与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果；以及存储并且输出(910)所述一个或多个雾度测量结果中的至少一个。
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