[发明专利]组合式全景和计算x射线断层照相装置有效
申请号: | 201080020340.0 | 申请日: | 2010-05-03 |
公开(公告)号: | CN102438527A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | S·伯索雷尔;P·梅勒;J-M·因格勒斯 | 申请(专利权)人: | 特罗菲公司 |
主分类号: | A61B6/14 | 分类号: | A61B6/14 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张懿;王忠忠 |
地址: | 法国马*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 以多种模式对对象进行x射线成像的组合式成像装置具有支撑结构,所述支撑结构具有延伸旋转臂,其中,旋转臂具有计算x射线断层照相检测仪和全景成像检测仪,二者均与可移动压盘相邻安装。检测仪定位装置可致动以将可移动压盘的位置平移至相对于x射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处。第一位置将计算x射线断层照相检测仪布置在x射线源的直接路径中,并且第二位置将全景成像检测仪布置在所述x射线源的直接路径中。 | ||
搜索关键词: | 组合式 全景 计算 射线 断层 照相 装置 | ||
【主权项】:
一种以多种模式对对象进行x射线成像的组合式成像装置,所述成像装置包括具有延伸旋转臂的支撑结构,其中,所述旋转臂包括:计算x射线断层照相检测仪和全景成像检测仪,二者均与可移动压盘相邻安装;以及检测仪定位装置,其可致动以将所述可移动压盘的位置平移到相对于x射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处,其中,所述第一位置将所述计算x射线断层照相检测仪布置在x射线源的直接路径中,并且其中,所述第二位置将所述全景成像检测仪布置在所述x射线源的所述直接路径中。
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