[发明专利]氮化物半导体元件的制造方法有效
申请号: | 201080020617.X | 申请日: | 2010-10-18 |
公开(公告)号: | CN102422391A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 吉田俊治;加藤亮;横川俊哉 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L33/32;H01S5/343 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在本发明的氮化镓类化合物半导体发光元件的制造方法中,首先,通过有机金属气相生长法,在不同的生长条件下形成主面为非极性面或半极性面的InyGa1-yN(0<y<1)层。接着,基于在多个InyGa1-yN(0<y<1)层中形成发光波长相等的InxGa1-xN(0<x<1)层的生长条件,求出在压力和生长速率恒定时的生长温度和In供给摩尔比之间的关系。然后,在表示生长温度和In供给摩尔比之间的所述关系的曲线上,决定生长温度随着In供给摩尔比的增加而单调增加的区域和饱和的区域之间的饱和点。在与该饱和点对应的生长条件下,使主面为非极性面或半极性面的InxGa1-xN(0<x<1)层生长。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 元件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种氮化镓类化合物半导体发光元件的制造方法,包括通过有机金属气相生长法形成主面为非极性面或半极性面的氮化镓类化合物半导体层的工序,其中,规定有机金属气相生长法的生长条件的参数包括:压力、生长速率、生长温度、和作为包含在III族原料气体中的铟原料气体的供给摩尔比的铟供给摩尔比,所述氮化镓类化合物半导体发光元件的制造方法包括:在压力和生长速率恒定时表示用于形成同一发光波长的InxGa1‑xN层的生长温度和铟供给摩尔比之间的关系的曲线上,决定与生长温度随着铟供给摩尔比的增加而单调增加的区域和饱和的区域之间的饱和点相对应的生长条件的工序(A),其中,0<x<1;以及在所述生长条件下使主面为非极性面或半极性面的InxGa1‑xN层生长的工序(B),其中,0<x<1。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080020617.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于负序功率正反馈的孤岛检测方法
- 下一篇:一种无功补偿采样测量系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造