[发明专利]量子效率测量系统和使用方法有效
申请号: | 201080021874.5 | 申请日: | 2010-05-19 |
公开(公告)号: | CN102439737A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | R.焦肯;J.多诺赫;A.费尔德曼;Z.李 | 申请(专利权)人: | 纽波特公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/042;H01L21/66 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘春元;蒋骏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种用于测量太阳能电池的特性的系统,并且该系统包括:光源,辐照具有从约100nm到约3000nm的谱范围的光学信号;波长选择器,被配置为选择性地收窄光学信号的谱范围;分束器;参考检测器,与分束器光学通信并且被配置为测量光学信号的特性;样品,用光学信号来辐照;反射率检测器,经由分束器来与样品光学通信并且被配置为测量样品反射的光学信号的光学特性;复用器;与参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信;以及处理器,经由复用器来与参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信并且被配置为计算样品的至少一个特性。 | ||
搜索关键词: | 量子 效率 测量 系统 使用方法 | ||
【主权项】:
一种用于测量太阳能电池的特性的系统,包括:至少一个光源,辐照具有从约100nm到约3000nm的谱范围的至少一个光学信号;至少一个波长选择器,被配置为选择性地收窄所述光学信号的所述谱范围;至少一个分束器;至少一个参考检测器,与所述分束器光学通信并且被配置为测量所述光学信号的至少一个特性;至少一个样品,用来自所述分束器的所述光学信号进行辐照;至少一个反射率检测器,经由所述分束器来与所述样品光学通信,所述反射率检测器被配置为测量所述样品反射的所述光学信号的至少一个光学特性;至少一个复用器,与所述参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信;以及至少一个处理器,经由所述复用器来与所述参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个通信,所述处理器被配置为基于从所述参考检测器、样品和反射率检测器中的至少一个接收的数据来计算所述样品的至少一个特性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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