[发明专利]用于改进光电产品生产的方法有效
申请号: | 201080022451.5 | 申请日: | 2010-05-21 |
公开(公告)号: | CN102449786A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 戈登·迪恩斯;E·迈克尔·黑文 | 申请(专利权)人: | 奥罗拉控制技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;G07C3/14 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 李世喆 |
地址: | 加拿大英*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用于制造光电产品的方法和设备,包括:评估生产线中每个产品的适合性,基于在此步骤中对产品的评估、或与先前产品在此步骤中评估结果的统计分析的比较、或以往步骤的先前评估结果与以往产品在这些步骤中的累积评估结果的统计分析的比较而指定一级别。产品可基于级别而关联到组中以作为组进行处理,下游设备可基于组的级别被调节以使所述组处于预定容差内。 | ||
搜索关键词: | 用于 改进 光电 产品 生产 方法 | ||
【主权项】:
一种在系列生产步骤的制造生产线中制造光电产品的方法,在所述生产线的多个中间生产步骤的每一个中包括:(a)基于对优选产品的预定标准而评估每个光电产品的适合性,以获得在每个生产步骤中对所述产品的评估结果;(b)将对生产步骤中所述产品的评估结果存储在存储器中;(c)基于以下任意一项为每个光电产品指定一级别:(i)在所述步骤中对所述产品的评估结果;(ii)在所述步骤中对所述产品的评估结果与在所述步骤中对先前所处理光电产品的评估结果的统计分析进行的比较;或(iii)在以往生产步骤中对所述产品的累积历史评估结果与在相同生产步骤中对先前所处理光电产品的历史累积评估结果的统计分析进行的比较;在每个这样的生产步骤中,对在此步骤中的光电产品进行级别识别以确定所述产品是在预定容差以内还是以外,所述预定容差体现出与预定标准的偏离;和(d)将在所述生产步骤中所述产品的级别存储在存储器中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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