[发明专利]光学位置检测设备无效
申请号: | 201080022806.0 | 申请日: | 2010-05-21 |
公开(公告)号: | CN102449584A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 小川保二 | 申请(专利权)人: | 株式会社施乐库;株式会社伊特 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042;G06F3/041 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 黄刚;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种光学位置检测设备,包括反向反射构件(10)和检测单元(20)。反向反射构件(10)设置为覆盖检测区域(1)的周边的两个预定边。检测单元(20)邻近于与两个预定边相对的角部设置,并通过利用从反向反射构件反射的反射光来检测指示器的指示位置。检测单元(20)包括两个检测部分(21),每一个检测部分均具有发射沿着检测区域的表面方向行进的光的光源部分和对从光源部分发射的且被反向反射构件反射的反射光成像的照相机部分。所述光源部分具有足够宽以利用光照射两个预定边的照射角度,并且照相机部分靠近光源部分设置,且具有足够宽以对两个预定边成像的取景角度。 | ||
搜索关键词: | 光学 位置 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种光学位置检测设备,所述光学位置检测设备能够检测将被输入到具有基本矩形形状的检测区域的指示器的指示位置,所述光学位置检测设备包括:反向反射构件,所述反向反射构件设置在所述指示器中,或者设置为覆盖所述检测区域的周边的两个预定边;和检测单元,所述检测单元邻近于与所述检测区域的周边的所述两个预定边相对的角部设置,并通过利用从所述反向反射构件反射的反射光来检测所述指示器的指示位置,所述检测单元包括至少两个检测部分,每一个检测部分均具有发射沿着所述检测区域的表面方向行进的光的光源部分和对从所述光源部分发射且被所述反向反射构件反射的反射光进行成像的照相机部分,所述光源部分具有足够宽以利用光照射所述检测区域的周边的所述两个预定边的照射角度,并且所述照相机部分靠近所述光源部分设置,且具有足够宽以对所述检测区域的周边的所述两个预定边进行成像的取景角度。
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