[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201080023252.6 申请日: 2010-06-17
公开(公告)号: CN102484080A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 芳我基治;吉田真悟;糟谷泰正;永原斗一;木村明宽;藤井贤治 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/3205;H01L23/29;H01L23/31;H01L23/52
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张远
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明是提供一种半导体装置。该半导体装置包括:半导体芯片;电极焊盘,其由含铝的金属材料构成,且形成在所述半导体芯片的表面;电极引脚,其配置在所述半导体芯片的周围;焊线,其具有线状延伸的主体部、和形成在所述主体部的两端且与所述电极焊盘以及所述电极引脚分别接合的焊盘接合部以及引脚接合部;和树脂封装,其对所述半导体芯片、所述电极引脚以及所述焊线进行密封,所述焊线由铜构成,所述电极焊盘整体以及所述焊盘接合部整体被非透水膜呈一体地覆盖。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,包括:半导体芯片;电极焊盘,其由含铝的金属材料构成,且形成在所述半导体芯片的表面;电极引脚,其被配置在所述半导体芯片的周围;焊线,其具有线状延伸的主体部、和形成在所述主体部的两端且与所述电极焊盘以及所述电极引脚分别接合的焊盘接合部以及引脚接合部;和树脂封装,其对所述半导体芯片、所述电极引脚以及所述焊线进行密封,所述焊线由铜构成,所述电极焊盘整体以及所述焊盘接合部整体被非透水膜呈一体地覆盖。
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