[发明专利]抑制放射性物质沉积的方法和系统有效
申请号: | 201080023836.3 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN102449705A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 矢板由美;福松辉城;青井洋美;闰间裕 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G21D1/00 | 分类号: | G21D1/00;C23C24/00;G21D3/08;G21F9/00;G21F9/28 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 苗征;于辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了抑制放射性物质沉积的方法和系统。通过氧化物膜除去步骤和钛氧化物沉积步骤有效抑制放射性物质,在所述氧化物膜除去步骤中,除去金属材料表面上的氧化物膜,所述金属材料表面与含有放射性物质的冷却剂接触,在所述钛氧化物沉积步骤中,在已除去所述氧化物膜之后,在所述金属材料表面上沉积钛氧化物。 | ||
搜索关键词: | 抑制 放射性 物质 沉积 方法 系统 | ||
【主权项】:
抑制放射性物质沉积的方法,其包括以下步骤:除去金属材料表面上的氧化物膜,所述金属材料表面与含有放射性物质的冷却剂接触;和除去所述氧化物膜之后,在所述金属材料表面上沉积钛氧化物。
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