[发明专利]使用激光喷雾电离的质谱法无效
| 申请号： | 201080024695.7 | 申请日： | 2010-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN102741965A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 萨拉·特林平 | 申请（专利权）人： | 韦恩州立大学 |
| 主分类号： | H01J27/24 | 分类号： | H01J27/24 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 张世俊 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文揭示用于使用激光喷雾电离(laserspray ionization，LSI)的质谱法的系统和方法。LSI可在大气压下产生多电荷离子以用于分析并且允许分析高分子量分子，包括超过4000道尔顿(Dalton)的分子。所述分析可以是基于溶剂或无溶剂分析。在LSI之后进行无溶剂分析允许改进的空间分辨率，其有利于表面和/或组织成像。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 激光 喷雾 电离 质谱法 | ||
【主权项】：
一种产生多电荷离子以用于分析材料的方法，其包含：a.将所述材料和基质涂覆于表面作为材料/基质分析物；b.在大气压或接近大气压下用激光烧蚀所述材料/基质分析物；和c.使所述经激光烧蚀的材料/基质分析物穿过加热区域，随后所述材料/基质分析物进入质谱仪的高度真空区域。
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