[发明专利]发光半导体器件及其制造方法无效
申请号: | 201080024735.8 | 申请日: | 2010-06-03 |
公开(公告)号: | CN102460743A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 弗拉德斯拉夫·E·鲍格诺夫;马克西姆·A·欧得诺莱多夫;米卡尔·缪洛 | 申请(专利权)人: | 奥普特冈有限公司 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40;H01L33/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;郑霞 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | 本发明的发光半导体器件(1)由第III族金属的氮化物制成,并且包括层结构,所述层结构包括n型半导体层(2)、p型半导体层(3)、在n型半导体层和p型半导体层之间的活性区(4)。层结构具有被n型半导体层和p型半导体层之一限定的接触表面(5),并且还包括附接于接触表面的反射接触结构(6)。根据本发明,反射接触结构(6)包括:第一透明导电氧化物(TCO)接触层(13),其具有多晶结构,附接于层结构的接触表面(5);第二透明导电氧化物(TCO)接触层(14),其具有非结晶结构;以及附接于第二TCO层的金属反射层(15)。 | ||
搜索关键词: | 发光 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种发光半导体器件(1),其由第III族金属的氮化物制成,所述器件包括层结构,所述层结构包括n型半导体层(2)、p型半导体层(3)、在所述n型半导体层和所述p型半导体层之间的活性区(4),所述层结构具有由所述n型半导体层和所述p型半导体层之一限定的接触表面(5),所述结构还包括附接于所述接触表面的反射接触结构(6),其特征在于,所述反射接触结构(6)包括:‑第一透明导电氧化物(TCO)接触层(13),其具有多晶结构,附接于所述层结构的所述接触表面(5),‑第二透明导电氧化物(TCO)接触层(14),其具有非结晶结构,以及‑附接于所述第二TCO层的金属反射层(15)。
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