[发明专利]显示面板的缺陷检查方法和缺陷检查装置无效

专利信息
申请号: 201080025336.3 申请日: 2010-01-29
公开(公告)号: CN102803917A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 松本直基;吉元直树;上田泰广;植木章太;中西秀信 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G02F1/13
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 使构成液晶显示面板(2)的像素的多种着色层全部同时点亮,利用具有多个拍摄像素的CCD照相机(3),一边使CCD照相机(3)每次移动事先设定的距离,一边对像素进行多次拍摄。运算多次拍摄的每一次的拍摄像素的亮度数据,合成亮度数据,取得合成后的亮度数据。根据合成后的亮度数据,取得与构成用CCD照相机(3)拍摄的像素的多个图像元素各自对应的亮度数据,根据与多个图像元素各自对应的亮度数据,检测多个图像元素各自的黑点缺陷的有无。
搜索关键词: 显示 面板 缺陷 检查 方法 装置
【主权项】:
一种显示面板的缺陷检查方法,其特征在于,检查具备彩色滤光片的显示面板的像素的黑点缺陷的有无,所述彩色滤光片具有二维地排列有多个上述像素的显示区域,所述像素包括多种着色层,上述显示面板的缺陷检查方法至少包括:点亮工序,使上述多种着色层全部同时点亮;拍摄工序,利用具有多个拍摄像素的拍摄装置,一边使该拍摄装置每次移动事先设定的距离,一边对上述像素进行多次拍摄;亮度数据运算工序,运算上述多次拍摄的每一次的上述拍摄像素的亮度数据;亮度数据合成工序,合成上述亮度数据,取得合成后的亮度数据;位置数据取得工序,取得多个图像元素各自的位置数据,所述多个图像元素构成用上述拍摄装置拍摄的上述像素;亮度数据取得工序,根据上述合成后的亮度数据和上述多个图像元素各自的位置数据,取得与多个图像元素各自对应的亮度数据,所述多个图像元素构成用上述拍摄装置拍摄的上述像素;以及黑点缺陷检测工序,根据与多个图像元素各自对应的亮度数据,检测上述多个图像元素各自的黑点缺陷的有无。
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